P控制卡

在本文中,您将了解 P 控制图是什么以及它们的用途。我们还解释了如何构建 P 控制图,此外,您将能够看到逐步解决的练习。

什么是 P 控制图?

P 控制图,或简称为P 图,是表示缺陷单元比例及其控制限度的演变的图表。因此,P控制图是用来控制缺陷单元比例的图。

在质量管理中,我们经常需要研究在生产过程中是否正确制造了单元,或者相反,是否出现了太多缺陷。因此,控制图 P 可以分析缺陷单元百分比的演变,并查看生产过程何时受到控制、何时不受控制。

然而,P控制图不仅用于控制生产过程,还具有其他应用,例如控制患者比例或控制二分实验的成功率。虽然它主要用于控制生产过程。

P控制图的特点之一是所分析的不同样本的大小不一定要相等,这样就可以取不同大小的样本来进行统计研究。

简而言之,P 控制图使我们能够分析有两种可能结果的情况:“成功”(生产良好的单位)和“失败”(有缺陷的单位)。也就是说,P 控制图对于服从二项式分布的情况很有用。

请参阅:什么是二项分布?

如何创建 P 控制图

创建 P 控制图,您必须遵循以下步骤:

  1. 取样:首先需要取样不同的样本,看看图表中的比例如何变化。样品的大小可以不同,但建议至少抽取 20 个样品。
  2. 计算比例 p :对于每个样本,必须计算缺陷个体的比例。
  3. 计算比例平均值:从所有研究的元素中,您需要计算缺陷单元的总比例。
  4. \overline{p}=\cfrac{\text{N\'umero total de defectos}}{\text{N\'umero total de unidades}}

  5. 计算 P 图控制限:对于每个测试样品,您需要使用下面给出的公式找到其控制限。请记住,如果每个样本的大小不同,控制限的值也会有所不同。
  6. \displaystyle LCS_i=\overline{p}+3\sqrt{\frac{\overline{p}(1-\overline{p})}{n_i}}

    \displaystyle LCI_i=\overline{p}-3\sqrt{\frac{\overline{p}(1-\overline{p})}{n_i}}

    金子

    LCS_i

    LCI_i

    分别为样品 i 的控制上限和下限,

    \overline{p}

    是缺陷比例的平均值,

    n_i

    是样本大小 i。

  7. 在图表上绘制值:您现在需要在图表上绘制获得的样本比例的值以及计算的控制限。
  8. 分析控制图 P :最后,剩下的就是检查比例值是否超过控制限,从而确保过程处于受控状态。否则,必须采取措施纠正生产过程。

P 控制图示例

为了完全理解这个概念,我们将看到一个创建控制卡 P 的已解决示例。

  • 某公司采集了25个产品样品,并在每个样品中记录了样品的大小以及发现的缺陷零件的数量。您可以在下表中看到收集的数据:

为了生成控制图P,首先需要计算缺陷单元的总比例。为此,只需将缺陷总数除以生产的单位总数即可:

\overline{p}=\cfrac{\text{N\'umero total de defectos}}{\text{N\'umero total de unidades}}=\cfrac{610}{5925}=0,1030

现在我们来计算每个样本的缺陷比例以及每个样本的控制限。作为示例,我们继续计算第一个样本:

p_1=\cfrac{\text{N\'umero de defectos de la muestra}}{\text{Tama\~no de la muestra}}=\cfrac{15}{115}=0,1304

\displaystyle LCS_1&=\overline{p}+3\sqrt{\frac{\overline{p}(1-\overline{p})}{n_1}}=0,1030+3\sqrt{\frac{0,1030(1-0,1030)}{115}}=0,18797

\displaystyle LCI_1&=\overline{p}-3\sqrt{\frac{\overline{p}(1-\overline{p})}{n_1}}=0,1030-3\sqrt{\frac{0,1030(1-0,1030)}{115}}=0,01794

因此,每个样品的缺陷比例和控制限如下:

一旦我们计算出所有的控制限,我们将缺陷比例及其控制限的值表示在图上,以获得控制图P:

P 控制图示例

从图中可以看出,所有比例值都在控制范围内。因此,我们得出结论,所研究的生产过程是受控的。

其他类型的控制图

P 控制图是属性控制图的一种。其他现有的属性控制图包括:

  • NP控制卡——与P卡不同,控制的不是不良品的比例,而是不良品的数量。
  • 控制卡C :监控发生的故障数量。
  • 控制图U :缺陷数量按照图C 进行控制,但样本大小是可变的。

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