W tym artykule wyja\u015bniono, czym s\u0105 r\u00f3\u017cne karty kontrolne. W ten spos\u00f3b odkryjesz, ile rodzaj\u00f3w wykres\u00f3w kontrolnych istnieje, a tak\u017ce przyk\u0142ady ka\u017cdego typu. <\/p>\n
Rodzaje kart kontrolnych<\/strong> to:<\/p>\n Ka\u017cdy typ karty kontrolnej wyja\u015bniono bardziej szczeg\u00f3\u0142owo poni\u017cej. <\/p>\n Wykres kontrolny zmiennych<\/a><\/strong> kontroluje zbi\u00f3r ci\u0105g\u0142ych danych statystycznych. Oznacza to, \u017ce zmienne wykresy kontrolne s\u0142u\u017c\u0105 do analizy ewolucji ci\u0105g\u0142ej charakterystyki jako\u015bci.<\/p>\n Na przyk\u0142ad, do kontrolowania \u015bredniej warto\u015bci wymiaru cz\u0119\u015bci mo\u017cna zastosowa\u0107 zmienny wykres kontrolny. Dodatkowo zmienne wykresy kontrolne umo\u017cliwiaj\u0105 tak\u017ce \u015bledzenie zmienno\u015bci lub zakresu mierzonych cech jako\u015bciowych.<\/p>\n W ramach zmiennych wykres\u00f3w kontrolnych istnieje kilka podtyp\u00f3w wykres\u00f3w kontrolnych:<\/p>\n Ze wszystkich najcz\u0119\u015bciej u\u017cywanych diagram\u00f3w jest wykres XR, dlatego szczeg\u00f3\u0142owo opiszemy, z czego sk\u0142ada si\u0119 ten typ wykresu kontrolnego.<\/p>\n Wykres XR<\/strong> pokazuje zmian\u0119 warto\u015bci \u015bredniej i zakresu cechy jako\u015bciowej. Karta kontrolna XR s\u0142u\u017cy g\u0142\u00f3wnie do kontroli \u015bredniej i zakresu procesu produkcyjnego.<\/p>\n Zatem w zarz\u0105dzaniu jako\u015bci\u0105 karta kontrolna XR umo\u017cliwia analiz\u0119 ewolucji i weryfikacj\u0119, czy kontrolowana jest krytyczna cecha jako\u015bci, taka jak rozmiar cz\u0119\u015bci lub temperatura piekarnika.<\/p>\n Wykres kontrolny XR jest w rzeczywisto\u015bci podzielony na dwa r\u00f3\u017cne wykresy: wykres X i wykres R. Wykres X s\u0142u\u017cy do kontrolowania \u015bredniej procesu, natomiast wykres R s\u0142u\u017cy do monitorowania zakresu. <\/p>\n Na karcie kontroli atrybut\u00f3w<\/a><\/strong> sprawdza si\u0119, czy badane jednostki posiadaj\u0105 okre\u015blon\u0105 cech\u0119 lub atrybut.<\/p>\n Na przyk\u0142ad w zarz\u0105dzaniu jako\u015bci\u0105 karty kontroli atrybut\u00f3w s\u0142u\u017c\u0105 do analizy, czy wytworzone produkty maj\u0105 wady, czy nie. Mo\u017cna w ten spos\u00f3b analizowa\u0107 ewolucj\u0119 liczby wadliwych produkt\u00f3w i liczby wad na jednostk\u0119.<\/p>\n Na wykresach kontroli atrybut\u00f3w istniej\u0105 cztery podtypy wykres\u00f3w kontrolnych, a mianowicie:<\/p>\n Te cztery typy kart kontrolnych s\u0105 cz\u0119sto u\u017cywane w zarz\u0105dzaniu jako\u015bci\u0105, dlatego przyjrzymy si\u0119 im poni\u017cej.<\/p>\n Karta<\/strong> jest kart\u0105 kontroln\u0105 pod wzgl\u0119dem atrybut\u00f3w, w kt\u00f3rej przedstawiona jest ewolucja proporcji wadliwych jednostek.<\/p>\n W ramach zarz\u0105dzania jako\u015bci\u0105 cz\u0119sto musimy bada\u0107, czy jednostki s\u0105 produkowane prawid\u0142owo w procesie produkcyjnym i odwrotnie, czy nie wyst\u0119puje zbyt wiele defekt\u00f3w. Zatem karta kontrolna P umo\u017cliwia analiz\u0119 ewolucji odsetka wadliwych jednostek i sprawdzenie, kiedy proces produkcyjny jest pod kontrol\u0105, a kiedy nie.<\/p>\n Jedn\u0105 z cech tego typu wykresu kontroli atrybut\u00f3w jest to, \u017ce wielko\u015b\u0107 r\u00f3\u017cnych analizowanych pr\u00f3bek nie musi by\u0107 taka sama, aby do przeprowadzenia badania statystycznego mo\u017cna by\u0142o pobra\u0107 pr\u00f3bki o r\u00f3\u017cnej wielko\u015bci. <\/p>\n Wykres NP<\/strong> to wykres kontroli atrybut\u00f3w, kt\u00f3ry przedstawia liczb\u0119 wadliwych jednostek z wielu pr\u00f3bek o sta\u0142ym rozmiarze.<\/p>\n Dlatego karta kontrolna NP s\u0142u\u017cy do sprawdzenia, czy liczba wadliwych jednostek w procesie nie wykracza poza granice kontrolne.<\/p>\n Na przyk\u0142ad kart\u0119 kontroln\u0105 NP mo\u017cna wykorzysta\u0107 do analizy ewolucji wadliwych produkt\u00f3w w wyniku procesu produkcyjnego. W ten spos\u00f3b mo\u017cemy wiedzie\u0107, \u017ce w procesie produkcyjnym pojawia si\u0119 problem, gdy liczba wadliwych produkt\u00f3w przekracza limity kontrolne.<\/p>\n Nale\u017cy zauwa\u017cy\u0107, \u017ce w przeciwie\u0144stwie do karty kontrolnej P, karta kontrolna NP nie monitoruje proporcji wadliwych jednostek, ale raczej liczb\u0119 wadliwych jednostek. Ponadto wielko\u015b\u0107 wszystkich pr\u00f3bek musi by\u0107 taka sama. <\/p>\n Wykres C<\/strong> to wykres kontroli atrybut\u00f3w, kt\u00f3ry przedstawia liczb\u0119 wyst\u0105pie\u0144 zjawiska na jednostk\u0119 miary.<\/p>\n Na przyk\u0142ad w zarz\u0105dzaniu jako\u015bci\u0105 karta kontrolna C s\u0142u\u017cy do kontroli, czy liczba wad w produktach mie\u015bci si\u0119 w granicach kontrolnych.<\/p>\n Podobnie karta kontrolna C ma wiele zastosowa\u0144, np. pozwala kontrolowa\u0107 liczb\u0119 otrzymywanych dziennie reklamacji, liczb\u0119 wypadk\u00f3w przy pracy w jednostce czasu, liczb\u0119 u\u017cytkownik\u00f3w strony internetowej w miesi\u0105cu itp. <\/p>\n\n
<\/span> Zmienne karty kontrolne<\/span><\/h3>\n
\n
<\/span> Wykres XR<\/span><\/h4>\n
<\/span> Wykresy kontroli atrybut\u00f3w<\/span><\/h3>\n
\n
<\/span> Wykres P<\/span><\/h4>\n
<\/span> Wykres NP<\/span><\/h4>\n
<\/span> Wykres C<\/span><\/h4>\n